美国司法部今天表示，两名中国男子因涉嫌将辉达H100与H200晶片走私至中国而被羁押。
美国司法部表示，检方指控居住在纽约43岁中国公民龚凡越（Fanyue Gong，音译）和58岁华裔加拿大籍袁本林（Benlin Yuan，音译），分别与一家香港物流公司和一家中国人工智慧技术公司的员工串谋，规避美国出口管制。
路透社报导，法院文件指出，龚凡越与共谋者透过人头买家和中介，以取得辉达晶片，并虚报这些货品将输往美国的客户或台湾、泰国等地。
根据刑事诉状，这些晶片随后被运送至美国多个仓库，再经人移除辉达的标签、贴上新标签，然后准备出口。检方认为，窜改后标签上面注明公司是假的。
另一份诉状指出，袁本林替香港物流公司招募人员，来检查晶片并贴改标签。
检方表示，袁本林涉嫌指示这些人员，不得透露货品是要运往中国，并指导如何编派说词，一旦联邦执法人员扣押货品后，能够协助公司取回晶片及其他设备。
法庭文件显示，检方估计这种走私行为从2023年11月就开始。
辉达发言人表示：「我们会持续和政府与客户合作，确保这种走私行为不会发生。」
中国驻美大使馆及袁本林的律师未能联系上，暂未回应路透社的置评要求。
美国政府于2022年实施出口管制，禁止中国取得任何由美国设备技术制造的半导体晶片。 $(document).ready(function () {nstockStoryStockInfo();});